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微區(qū)掃描電化學(xué)突破瓶頸

更新時(shí)間:2016-04-12瀏覽:1803次
   微區(qū)掃描電化學(xué)突破瓶頸
  微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。微區(qū)掃描電化學(xué)是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率,長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上,輔助選件包括,如電位計(jì),壓電振動(dòng)單元,或者激光傳感器,為不同掃描探針試驗(yàn),定位系統(tǒng)提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起,由以太網(wǎng)來控制,保證小信號的測量。微區(qū)掃描電化學(xué)在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個(gè)全新的概念,以高分辨率,非接觸式,空間分析電化學(xué)測量的特點(diǎn)而設(shè)計(jì)。微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)模塊化的系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)當(dāng)今所有微區(qū)掃描電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測試:
  - 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
  - 掃描振動(dòng)電極測試(SVET)
  - 掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
  - 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試(LEIS)
  - 掃描電解液微滴測試(SDS)
  - 非觸式微區(qū)形貌測試(OSP)
  微區(qū)掃描電化學(xué)體現(xiàn)如下特點(diǎn):
  - 自動(dòng)循環(huán)實(shí)驗(yàn),探針移動(dòng)及區(qū)域繪圖
  - 圖形化實(shí)驗(yàn)程序工具(GESE)
  - 支持多區(qū)域掃描
  - 3D區(qū)域繪圖分析功能且專門的3D面積分析
  - 所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖
  - 2D線性圖形工具以分析和覆蓋數(shù)據(jù)
  - 全屏顯示區(qū)域圖
  - 鼠標(biāo)按鈕可定義編輯點(diǎn),全屏查看,移至點(diǎn)(X,Y)、斷面, 2 D傅里葉
  - 用戶可選擇美國或歐洲當(dāng)前的常規(guī)支持
  - 可選SVP,SKP,CHM和CTM線性和面積掃描的振動(dòng)頻率
  微區(qū)掃描電化學(xué)利用納米級分辨率的快速,閉環(huán)x,y,z定位系統(tǒng),并連同一個(gè)便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用戶依據(jù)自己的實(shí)驗(yàn)選擇配置。微區(qū)掃描電化學(xué)此系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活且人體工程學(xué)設(shè)計(jì)方便確保池體,樣品和探針的進(jìn)入。微區(qū)掃描電化學(xué)是一款精密的掃描微電極系統(tǒng),微區(qū)掃描電化學(xué)具有*空間分辨率,在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測,分析,或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。 它是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率,長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺上。微區(qū)掃描電化學(xué)不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上,輔助選件包括,如電位計(jì),壓電振動(dòng)單元,或者激光傳感器,微區(qū)掃描電化學(xué)為不同掃描探針試驗(yàn),定位系統(tǒng)提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起,由以太網(wǎng)來控制,保證小信號的測量。
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